DALSA, 차세대 CMOS 기반 X레이 패널 공개

발행날짜: 2010-11-22 09:49:16
  • 노이즈 최소화, 신호 극대화 하는 CMOS 기술 선봬

디지털 이미지 감응 기술 분야의 글로벌 리더인 DALSA Corporation (TSX: DSA)이 19일 능동형 CMOS X레이 디텍터 패널제품군의 첫 제품을 출시했다.

새로운 Xineos는 업계 최초의 표준 CMOS 평판 디텍터로 고속, 저용량 이미지 처리 능력을 해상도의 손실 없이 제공해 준다. Xineos-1313은 시카고 McCormick Place에서 11월 28일부터 12월 3일까지 열리는 RSNA 2010 쇼에 전시될 예정이다.

CMOS 헉신의 리더로서 DALSA는 Xineos를 개발하여 동일한 X레이 조사 환경에서 다른 표준 기술들에 비해 탁월한 감도와 신호 노이즈 성능을 제공하고 있다.

CMOS 이미지 디텍터는 흐린 이미지 세부 영역을 높은 해상도로 기록하여 의학적 비정상 상태를 조기 단계에 진단하여 조기 진료, 환자 회복 및 진료 비용 절감 가능성을 대폭 늘려 주는 등의 여러 장점들을 가지고 있다.

브라언 델로더(Bryan Delodder) DALSA Xineos 제품 매니저는"DALSA의 Xineos 디지털 이미징X레이 패널 제품을 도입하면서 당사는 X레이 이미지 처리 소스의 노이즈를 최소화하고 신호를 극대화해 주는 당사의CMOS 기술을 활용하고 있다"고 전했다.

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